Von einem Halbleiterlaser abgestrahltes Laserlicht tastet horizontal und vertikal die Probenoberfläche ab und reflektiertes Licht wird inkl. der RGB-Informationen der CCD Kamera erfasst.
Die so, ca. 21,6 Millionen, erfassten Messpunkte über einen Z-Messabstand von bis zu 7mm ermöglichen eine hochauflösende Bildbetrachtung sowie umfangreiche Messmöglichkeiten.
Zu diesen umfangreichen Messmöglichkeiten zählen kontaktlose Rauheitsmessungen an gewünschten Bereichen, Dickenmessungen an transparenten Oberflächen sowie Phasenbestimmungen im Gefüge.
Phasenbestimmungen werden mithilfe der Höhenunterschiede innerhalb des Gefüges realisiert.
Durch die Lasermikroskopie können hochauflösende Bilder mit großer Schärfentiefe verwirklicht werden.
Kontaktlose Rauheitsmessung an gewünschten Bereichen, sowie Dickenmessungen an transparenten Oberflächen können mit dem Laserstrahl problemlos durchgeführt werden.